Semi-conducteurs
Caractériser les bases des propriétés électroniques
Favoriser l'innovation en matière de semi-conducteurs : des atomes aux appareils
Le monde moderne exige des appareils électroniques toujours plus fonctionnels et rapides. Leurs composants doivent donc évoluer à un rythme inédit. Les semi-conducteurs sont de plus en plus petits, consomment moins d'énergie et ont une plus grande bande passante. Cependant, à mesure que les micropuces se rapprochent de leurs limites fondamentales en raison de leur taille, les difficultés de fabrication augmentent.
La modélisation et la simulation prennent en charge le développement de ces composants électroniques, des semi-conducteurs à l'échelle nanométrique aux transistors organiques en couches minces en passant par les biocapteurs. Pour ce faire, les simulations de structures électroniques sont utilisées dans le processus de conception de l'appareil. Il est tout aussi important de renforcer la fiabilité des circuits intégrés en modélisant les propriétés structurelles, électroniques, thermiques et mécaniques des matériaux.
Ensemble complet d'outils de modélisation et de simulation
BIOVIA Materials Studio fournit un ensemble complet d'outils de modélisation et de simulation permettant d'étudier les propriétés des matériaux clés sous-jacentes au fonctionnement des semi-conducteurs, des transistors et des matériaux photovoltaïques.
- Fabrication de semi-conducteurs
- Boîtier de semi-conducteurs
Fabrication de semi-conducteurs
- Identification des caractéristiques de l'appareil définissant les propriétés électroniques
- Détermination de l'impact des défauts sur les performances
- Évaluation de l'interface oxyde-oxyde
- Évaluation et conception des précurseurs dans le dépôt chimique en phase vapeur (CVD) et le dépôt de couches atomiques (ALD)
- Détermination de la densité des états et de l'écart de bande (avec décalage)
- Analyse des photorésistances et de la diffusion des gaz
- Transport d'électrons pour générer une courbe IV afin de faciliter la conception de l'appareil
- Propriétés optiques à des fins de détection
- Prédiction des spectres d'émission pour les matériaux de transistor à utiliser dans les technologies d'affichage
- Conception de transistors en couches minces pour suivre les effets de la pulvérisation cathodique sur la structure cristalline
Boîtier de semi-conducteurs
- Détermination de l'hétérogénéité mésoscopique dans le procédé de durcissement des résines en vue d'évaluer la dilatation thermique au cours des différentes étapes
- Calcul de l'adhérence des résines époxy aux surfaces métalliques pour résoudre les problèmes de stabilité et de dépendance à l'humidité
- Propriétés structurelles et électroniques des joints de soudure
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